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  • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統

    FR-Ultra 是一款專(zhuān)用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專(zhuān)用設備。 藉由先進(jìn)的光學(xué)器件,FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。

    更新時(shí)間:2024-03-19
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