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FilmSense多波段橢偏儀可通過(guò)橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實(shí)現光學(xué)參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。

Raditech致力于光學(xué)檢測設備，在光學(xué)量測設備領(lǐng)域專(zhuān)業(yè)度高、能提供整合性解決方案。推出第一臺國人自制的「全光譜橢圓偏光量測儀」及「全光譜反射式膜厚量測儀」，能協(xié)助產(chǎn)業(yè)界邁向更精密化、更微細化，技術(shù)與國際大廠(chǎng)并駕齊驅?zhuān)a(chǎn)品精確度高、價(jià)格具競爭力，穩健邁向國內自制最高質(zhì)量之精密光學(xué)量測設備制造商。